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簡要描述：光焱科技新推出光炎量子效率光傳感器特性分析儀PD-QE測試系統(tǒng)，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術，與傳統(tǒng)交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統(tǒng)高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。
產品型號： PD-QE
所屬分類：光焱量子效率測量系統(tǒng)
更新時間：2024-10-10
廠商性質：經銷商
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),能源,電子/電池 |
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PD-QE光炎量子效率光傳感器特性分析儀介紹：
光焱科技新推出PD-QE測試系統(tǒng)，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術，與傳統(tǒng)交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統(tǒng)高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。
PD-QE光炎量子效率光傳感器特性分析儀特點：
使用均勻光斑的"照度模式"(Irradiance Mode)符合ASTM E1021；
取代傳統(tǒng)聚焦小光斑，可以測試um等級的光電傳感器；
均勻光斑可以克服色散差與像差的問題，可準確測得EQE曲線；
可搭配多種探針臺系統(tǒng)，實現非破壞性的快速測試；
集成的光學與測試系統(tǒng)，提高系統(tǒng)搭建效率；
一鍵式自動化測試軟件，自動全光譜校正與測量，工作效率高。
測試特性：
外部量子效率EQE
光譜響應SR
I-V曲線測量
NEP光譜測量
D*光譜測量
Noise-current-frequency響應圖(A/Hz-1/2;0.01Hz~1,000Hz)
Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
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